HIOKI 3532-50 LCR测试仪
HIOKI 3532-50 LCR测试仪--搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来。

LCR测试仪IM3523
|Z|, L, C, R测试 测试信号源频率：40Hz～200kHz 测量时间：2ms

C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506 对应1kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506和HIOKI 3506相比少了100kHz的测量频率,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505 对应1kHz, 100kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505 低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

电容测试仪 HIOKI 3504
C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504),能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 

电容测试仪 HIOKI 3504-10
C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头

HIOKI 3501电容值测试仪/电容表
HIOKI 3501电容值测试仪/电容表

HIOKI 3535 LCR测试仪
hioki 3535 LCR测试仪为日本日置公司生产的LCR测试仪，hioki 3535 LCR测试仪的频宽为100kHz～120MHz，hioki 3535 LCR测试仪采样为6ms

HIOKI 3511-50 LCR测试仪
日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪

HIOKI 3522-50 LCR测试仪
LCR 3522-50 LCR测试仪为日本日置公司生产的LCR测试仪，LCR 3522-50 LCR测试仪使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长 LCR 3522-50 LCR测试仪具有低价及更好的功用和性能